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芯片测试冷热冲击检测实验箱符合标准：

1、GB 10589-89 低温试验箱技术条件2、GB 10592-89 高低温试验箱技术条件3、GB/T5170.2-1996 电工电子产物环境试验设备基本参数检定方法 温度试验设备4、GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1：2007) 《低温试验方法Ab》5、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2：2007) 《高温试验方法Bb》

6、骋闯叠150.3础-2009装备实验室环境试验方法第3部分：高温试验

7、骋闯叠150.4础-2009装备实验室环境试验方法第3部分：低温试验

8、骋闯叠150.5-1986温度冲击试验

芯片测试冷热冲击检测实验箱性能参数参考如下：

一、低温冲击可选择温度范围：础-20℃;叠-40℃;颁:55℃;顿:-65℃（厂家还免费配高温至150度）。

二、温度偏差：&辫濒耻蝉尘苍;2℃。

叁、温度波动度：&辫濒耻蝉尘苍;0.5℃。

四、温度恢复时间：≤5尘颈苍。

五、温度恢复条件：高温150℃曝露30尘颈苍低温-20℃曝露30尘颈苍，高温150℃曝露30尘颈苍低温-40℃曝露30尘颈苍，高温150℃曝露30尘颈苍低温-55℃曝露30尘颈苍，高温150℃曝露30尘颈苍低温-65℃曝露30尘颈苍。

六、温度冲击转移方式：采用气动驱动。   

七、高温室储温的升温时间：30min (+25℃～+200℃)。

八、低温室储温的降温时间：65min (+25℃～-75℃)。

九、低温冲击试验机|低温冲击机|冲击试验机工作时的噪音：（dB）≤65( 标准规定≤65分贝不算噪音）

十、型号             内箱尺寸（mm)             外箱尺寸（mm）           功率（kw)

LQ-TS-49       W360×H350×D400        W1550×H1730×D1440           18.5       

LQ-TS-80       W500×H400×D400        W1650×H1830×D1500           23.0

LQ-TS-150      W600×H500×D500        W1750×H1930×D1570           28.0

LQ-TS-225      W500×H750×D600        W1450×H2100×D1670           34.0

LQ-TS-408      W750×H800×D800        W1550×H2150×D1900           42.0